Изначально мне данный прибор достался в не рабочем состоянии. После восстановления его в рабочее состояние пришла в голову идея изменить максимальную частоту тестового сигнала с 800 Гц до 1000Гц. Ну чтобы подогнать условия измерения к рекомендуемому стандарту.
Первым делом был заменён АЦП в виде кляксы на плате на нормальную микросхему ICL7106CPLZ с установкой панельки под неё. Китайские кляксы работают обычно с частотой тактового генератора примерно 32-33 кГц и с более высокой частотой ведут себя не адекватно.
Частота тактового генератора была изменена с 32768 Гц до 40000 Гц путём замены кварца. Тактовый генератор собран на микросхеме IC5 (CD4069UBE). Кварц был куплен немецкого производства и оказался довольно точным (частота точно 40000 Гц). Фото кляксы и кварца:
После замены кварца максимальная частота тестового сигнала стала 1000.00 Гц и прибор завышал показания примерно в 1.22 раза на всех диапазонах. За точность измерения во всех диапазонах отвечает резистор R13 (стоял изначально 100кОм 1%). Пришлось уменьшить его сопротивление до 78.7 кОм (1%). Фото нового резистора:
После замены резистора показания стали больше похожи на правду.
Далее по конденсаторам с точностью 0.2-0.5% были подстроены диапазоны измерения более точно.
За диапазон до 200 пФ отвечает VR2, за диапазон 2нФ-20мкФ - VR3, за диапазон 200-2000мкФ - VR4, 20000мкФ - VR5.
Все обозначения компонентов согласно печатной платы!
Точность измерений осталась такая же как и была с максимальной частотой тестового сигнала 800Гц.
Осталась одна проблема (которая была и изначально) это последняя цифра при измерении скачет постоянно.
Пока не могу понять причину этого скакания...

